SN74LVTH18646APM

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Parte di u fabricatore

SN74LVTH18646APM

U fabricatore
Texas
Descrizzione
IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-LQFP
categuria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di spezialità
Serie
-
In magazinu
117
Datasheets in linea
-
Inchiesta
  • serie:74LVTH
  • pacchettu:Tray
  • statutu di parte:Active
  • tipu di logica:ABT Scan Test Device With Transceivers and Registers
  • tensione di furnimentu:2.7V ~ 3.6V
  • numeru di bit:18
  • temperatura di funziunamentu:-40°C ~ 85°C
  • tipu di muntatura:Surface Mount
  • pacchettu / casu:64-LQFP
  • pacchettu di u dispusitivu di u fornitore:64-LQFP (10x10)
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