8V182512IDGGREP

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Parte di u fabricatore

8V182512IDGGREP

U fabricatore
Texas
Descrizzione
IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP
categuria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di spezialità
Serie
-
In magazinu
0
Datasheets in linea
-
Inchiesta
  • serie:-
  • pacchettu:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
  • statutu di parte:Active
  • tipu di logica:ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
  • tensione di furnimentu:2.7V ~ 3.6V
  • numeru di bit:18
  • temperatura di funziunamentu:-40°C ~ 85°C
  • tipu di muntatura:Surface Mount
  • pacchettu / casu:64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
  • pacchettu di u dispusitivu di u fornitore:64-TSSOP
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