SN74ABTH18646APM

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Parte di u fabricatore

SN74ABTH18646APM

U fabricatore
Texas
Descrizzione
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
categuria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di spezialità
Serie
-
In magazinu
160
Datasheets in linea
-
Inchiesta
  • serie:74ABTH
  • pacchettu:Tray
  • statutu di parte:Active
  • tipu di logica:Scan Test Device With Transceivers And Registers
  • tensione di furnimentu:4.5V ~ 5.5V
  • numeru di bit:18
  • temperatura di funziunamentu:-40°C ~ 85°C
  • tipu di muntatura:Surface Mount
  • pacchettu / casu:64-LQFP
  • pacchettu di u dispusitivu di u fornitore:64-LQFP (10x10)
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