SN74ABT8245DWR

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Parte di u fabricatore

SN74ABT8245DWR

U fabricatore
Texas
Descrizzione
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
categuria
circuiti integrati
Famiglia
logica - logica di spezialità
Serie
-
In magazinu
0
Datasheets in linea
-
Inchiesta
  • serie:74ABT
  • pacchettu:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
  • statutu di parte:Active
  • tipu di logica:Scan Test Device with Bus Transceivers
  • tensione di furnimentu:4.5V ~ 5.5V
  • numeru di bit:8
  • temperatura di funziunamentu:-40°C ~ 85°C
  • tipu di muntatura:Surface Mount
  • pacchettu / casu:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • pacchettu di u dispusitivu di u fornitore:24-SOIC
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